飛納掃描電鏡以的微觀檢測(cè)能力被大家熟知，簡(jiǎn)單的操作、方便的測(cè)樣、快速的成像以及友好的界面為飛納帶來(lái)了不少粉絲。其實(shí)，飛納電鏡除了強(qiáng)大的微觀檢測(cè)能力之外，它也有許多實(shí)用的可拓展功能。飛納電鏡的這些“三頭六臂”讓客戶(hù)在進(jìn)行微觀分析時(shí)如虎添翼，今天就來(lái)談一談其中被很多人關(guān)注的 顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)。
在檢測(cè)粉末樣品時(shí)，除了形貌觀察，我們有時(shí)還有統(tǒng)計(jì)其粒徑、圓度等的需求。如果我們依靠人工手動(dòng)測(cè)量統(tǒng)計(jì)，會(huì)耗費(fèi)很大的人力和時(shí)間。此時(shí)，如果有一款軟件能基于微觀形貌自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒的具體信息，就會(huì)方便很多。
客戶(hù)有需求，飛納有方案 —— 顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生
原理
掃描電鏡只能進(jìn)行“黑白”成像，而顆粒與周?chē)尘?“亮度” 不一致，根據(jù)這一差異，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)識(shí)別到顆粒。
檢測(cè)方式
可以根據(jù)客戶(hù)不同檢測(cè)需求進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，比如融合顆粒的識(shí)別設(shè)置（圖1）、覆蓋顆粒是否統(tǒng)計(jì)（圖2）、不完整顆粒是否統(tǒng)計(jì)（圖3）、小識(shí)別顆粒尺寸（圖4）等等。
圖 1
圖 2
圖 3
圖 4
統(tǒng)計(jì)結(jié)果
顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)會(huì)把識(shí)別到的顆粒一一列出來(lái)，操作員可以根據(jù)需求可以刪除不滿(mǎn)意顆粒。其次，系統(tǒng)會(huì)把每一個(gè)顆粒的具體信息統(tǒng)計(jì)出來(lái)，比如面積、等效圓直徑、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度、短軸長(zhǎng)度等，全面地了解樣品。
當(dāng)獲得了滿(mǎn)意的統(tǒng)計(jì)結(jié)果之后，還可以根據(jù)需要生成散點(diǎn)圖、折線圖等統(tǒng)計(jì)圖表（橫縱坐標(biāo)自主確定），并自動(dòng)生成統(tǒng)計(jì)報(bào)告，顆粒統(tǒng)計(jì)結(jié)果一目了然。
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